2010年9月17日金曜日

Annual_QA X線の再現性,直線性,低MUの直線性

[再現性]
・SetupはMU校正と同じ.
・Beam条件もMU校正と同じ.使用可能なEnergyごとに行う.
・複数回測定(10回測定)を行って,変動係数で評価.
・許容は0.5%以内


[直線性]
・SetupはMU校正と同じ.
・使用可能なEnergyごとに行う.
・Field 10*10, MUを80-900MUの間から4つ以上のMUを選択して測定を行う.測定は5回程度.
・横軸をMU,縦軸を指示値としてGraphを書く.直線近似し,R^2=1となればMUと指示値には直線性が保たれている(線量とMUの直線性とは別問題).
・graphの縦軸を線量に変換する.このとき,その日の線量誤差(MU校正での誤差)を考慮する.
   →MU校正の誤差-0.5%ならば,900MU照射時の線量から0.5%上乗せする.
・縦軸をcGy表示にして直線近似を行う.線量とMUの直線性が保たれているなら,graphの傾きは1になる.
・許容は2%(jastro)以下.直線近似式から算出した線量[cGy]と,MUとの差が2%以上になるMUを算出する.

直線性の試験とは,指示値とMUなのか,線量とMUなのか,定義が曖昧..

[低MUの直線性]
・直線性試験と同様の事を行う.
・MUは1-10MU
・Field in Fieldなどで低MUのBeamを用いるので,個々に関して別に評価を行うため.

[2010/10/02 直線性について思うことを追記]
・上記の赤線について,指示値とMUの直線性を確認したいならば,線量に変換する必要は無いので,
 全てのエネルギーで行う必要は無いと思われる.

・線量とMUの直線性を確認したいならば,線量に変換する必要があるので,
 使用可能なエネルギーごとに行う必要があると思う.