Annual_QA 電子線PDI, PDD(深部線量，校正深との線量比)

PDDで線質，深部線量曲線，校正深との線量比を評価する．

・使用機器
　　3Dphantom, 平行平板形電離箱
　　測定は実効中心で行う(電極前壁,表面から0,6mm中心側)

・線質に変化が無いかの評価を行うため，基準照射野での測定．
　　20eに関しては基準照射野(20cm*20cm)と10cm*10cmでも行う．→基準照射野の選択のため

・電離箱の設置について
　　平行平板形電離箱を少し浮かせて設置すると水面出しがやりやすい．
　　SSD=100cm

・測定モード　
       Field(referenceなし) or Ratio(referenceあり)
       scan protocol：Breakpoint(位置でスキャンpitchを変える),gradient(線量勾配が急な部分でスキャンpitchを変える)
       深部から浅い方向にスキャンすること(水面近くでの表面張力の影響を少なくするため)

・スキャン手順
　　　1．Dmaxを見つける(search Dmax)
        2．DmaxにてGain調整(Auto Gain)
        3．Dark Current補正
        4．DmaxにてNormalize(Normalizeはデータ取得後に調整可能)
        5．Scan

・PDIからPDDを算出する手順
　　　1．深部電離量半価深(I50)を算出

　　　2．I50から深部線量半価深(R50)を算出
　　　3．任意の深さdとR50の比(d/R50)を算出
　　　4．深さdの電離量に質量衝突阻止能比を乗じて相対的な深部線量を算出する．質量衝突阻止能比の算出式はR50と(d/R50)の関数として示されている．
　　　5．最大線量で正規化してPDD算出．

　　　※平行平板形電離箱は深さによってKs,Kpolが変化するので，その補正が必要だと緑本に書いてある．

・評価指標
　　　深部線量半価深(R50),校正深(Rref,R50が決まると一元的に決まる),ピーク深(R100),
         加速エネルギー(E0)

       導入時または，TPSと比較．